ad585s
AD585S
製造中サンプル&ホールド・アンプ、航空宇宙、高速、高精度
- 製品モデル
- 2
- 1Ku当たりの価格
- 価格は未定
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製品の詳細
- アクイジション時間(±0.01 % まで): 3.0 µs(最大値)
- 低ドループ・レート: 1.0 mV/ms(最大値)
- サンプル/ホールド・オフセット・ステップ: 3 mV(最大値)
- アパーチャ・ジッタ: 0.5 ns(代表値)
- ホールド・コンデンサ内蔵
- アプリケーション抵抗内蔵
- ±12 V または ±15 V 動作
AD585S は全機能内蔵型のモノリシック・サンプル&ホールド回路で、超低リークのアナログ・スイッチおよび FET 入力集積アンプと直列に接続された高性能オペアンプで構成されています。高精度とアプリケーションの柔軟性を実現するために、ホールド・コンデンサおよびマッチングしたアプリケーション抵抗を内蔵しています。
優れた性能を持つ AD585S は、高速アクイジション時間、低サンプル/ホールド・オフセットおよび低ドループが不可欠な高速の 10 ビットおよび 12 ビットのデータ・アクイジション・システムに最適です。AD585S は最大 3 µs 以内に ±0.01 % の精度で信号を取得し、内蔵のホールド・コンデンサを使って、最大 3 mV のサンプル/ホールド・オフセット、および 1 mV/ms 未満のドループでこの信号をホールドすることができます。これより低いドループが必要な場合は、より大きな外付けホールド・コンデンサを追加可能です。
AD585S はアパーチャ・ジッタが 0.5 ns の高速アナログ・スイッチを採用しているため、12 ビット精度、最大 78 kHz の周波数でフルスケール(20 Vp-p)信号をサンプリングすることができます。
AD585S はユーザ定義の任意の帰還ネットワークで使用することで、サンプル・モードで必要なゲインを得ることができます。また、内蔵の高精度薄膜抵抗を使用して、+1、–1、または +2 のゲインを得ることができます。ホールド・モードでの出力インピーダンスが十分に低いため、逐次比較型 A/D コンバータによって生じる動的負荷を駆動する場合でも、正確な出力信号を維持することができます。また一方、出力は偶発的な短絡による障害から保護されています。
HOLD コマンド用の制御信号は、アクティブ・ハイにもアクティブ・ローにもなることができます。適切なリファレンス・レベルが与えられれば、差動 HOLD 信号はすべてのロジック・ファミリーに適合します。TTL に適合するために、内部TTL リファレンス・レベルが提供されています。
ドキュメント
放射線レポート 1
製品モデル | ピン/パッケージ図 | 資料 | CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル |
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AD585-703M | 14 ld Flat Pack | ||
AD585-713M | 14 ld Flat Pack |
製品モデル | 製品ライフサイクル | PCN |
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7 30, 2018 - 16_0026 Qualify TeamQuest Technology, Inc. for Burn-in and Life Test of Military and Aerospace Devices |
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AD585-703M | ||
AD585-713M | ||
11 18, 2015 - 15_0219 Laser Marking Standardization for Aerospace Packages |
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AD585-703M | ||
AD585-713M | ||
10 2, 2013 - 13_0163 Qualify TSSI Cavite, Phils for Burn-in and Life Test of MIL-PRF-38535 QMLV Aerospace Devices |
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AD585-703M | ||
AD585-713M | ||
11 7, 2012 - 12_0199 Qualification of New Conductive Silver-Filled Glass Die Attach Adhesive for Cerdip and Ceramic Flatpack (Cerpack) Packages. |
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AD585-703M | ||
AD585-713M | ||
11 9, 2011 - 11_0050 Transfer of ADI Hermetics Assembly location from Paranaque, Manila to General Trias, Cavite Philippines |
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AD585-703M | ||
AD585-713M | ||
11 9, 2011 - 11_0182 Test Site Transfer from Analog Devices Philippines Inc in Paranaque to Analog Devices General Trias in Cavite, Philippines |
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AD585-703M | ||
AD585-713M |
これは最新改訂バージョンのデータシートです。
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